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紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)常見(jiàn)故障解決辦法
發(fā)布日期：2017-03-20 瀏覽次數(shù)：2977
一．紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)光源部分：
（1）故障：鎢燈不亮長效機製；
原因：鎢燈燈絲燒斷（此種原因幾率高）法治力量；
檢查：鎢燈兩端有工作電壓，但燈不亮分享；取下鎢燈用萬(wàn)用表電阻檔檢測(cè)供給。
處置：更換新鎢燈；
（2）故障：鎢燈不亮經驗分享；
原因：沒(méi)有點(diǎn)燈電壓解決方案；
檢查：保險(xiǎn)絲被熔斷；
處置：更換保險(xiǎn)絲有力扭轉，（如更換后再次燒斷則要檢查供電電路）上高質量；
（3）故障：氘燈不亮；
原因：氘燈壽命到期（此種原因幾率高）廣度和深度；
檢查：燈絲電壓深入交流、陽(yáng)極電壓均有，燈絲也可能未斷（可看到燈絲發(fā)紅）加強宣傳；
處置：更換氘燈臺上與臺下；
（4）故障：氘燈不亮；
原因：氘燈起輝電路故障設計能力；
檢查：氘燈在起輝的過(guò)程中品牌，一般是燈絲先要預(yù)熱數(shù)秒鐘，然后燈的陽(yáng)極與陰極間才可起輝放電更為一致，如果燈在起輝的開(kāi)始瞬間燈內(nèi)閃動(dòng)一下或連續(xù)閃動(dòng)等形式，并且更換新的氘燈后依然如此，有可能是起輝電路有故障研究與應用，燈電流調(diào)整用的大功率晶體管損壞的幾率大飛躍。
處置：需要專(zhuān)業(yè)人士修理；
二．紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)信號(hào)部分：
（1）故障：沒(méi)有任何檢測(cè)信號(hào)輸出全面協議；
原因：沒(méi)有任何光束照射到樣品室內(nèi)重要部署；
檢查：將波長(zhǎng)設(shè)定為530nm，狹縫盡量開(kāi)到寬檔位工具，在黑暗的環(huán)境下用一張白紙放在樣品室光窗出口處智慧與合力，觀察白紙上有無(wú)綠光斑影像；
處置：檢查光源鏡是否轉(zhuǎn)到位重要的角色？雙光束儀器的切光電機(jī)是否轉(zhuǎn)動(dòng)了（耳朵可以聽(tīng)見(jiàn)電機(jī)轉(zhuǎn)動(dòng)的聲音）開放要求？
（2）故障：樣品室內(nèi)無(wú)任何物品的情況下，全波長(zhǎng)范圍內(nèi)基線噪聲大平臺建設；
原因：光源鏡位置不正確服務機製、石英窗表面被濺射上樣品貢獻力量；
檢查：觀察光源是否照射到入射狹縫的中央？石英窗上有無(wú)污染物更多可能性？
處置：重新調(diào)整光源鏡的位置去創新，用乙醇清洗石英窗；
（3）故障：樣品室內(nèi)無(wú)任何物品的情況下緊迫性，僅僅是紫外區(qū)的基線噪聲大結構；
原因：氘燈老化、光學(xué)系統(tǒng)的反光鏡表面劣化多元化服務體系、濾光片出現(xiàn)結(jié)晶物規劃；
檢查：可見(jiàn)區(qū)的基線較為平坦擴大公共數據，斷電后打開(kāi)儀器的單色器及上蓋深度，肉眼可以觀察到光柵、反光鏡表面有一層白色霧狀物覆蓋在上面核心技術體系；如果光學(xué)系統(tǒng)正常開拓創新，大的可能是氘燈老化，可以通過(guò)能量檢查或更換新燈方法加以判斷必然趨勢；
處置：更換氘燈促進善治、用火棉膠粘取鏡面上的污物或用研磨膏研磨濾光片（注意：此種技巧需要有一定維修經(jīng)驗(yàn)者來(lái)實(shí)施）；
（4）故障：樣品室放入空白后做基線記憶多樣性，噪聲較大發揮效力，紫外區(qū)尤甚；
原因：比色皿表面或內(nèi)壁被污染明顯、使用了玻璃比色皿或空白樣品對(duì)紫外光譜的吸收太強(qiáng)烈安全鏈，使放大器超出了校正范圍；
檢查：將波長(zhǎng)設(shè)定為250nm創新為先，先在不放任何物品的狀態(tài)下調(diào)零真正做到，然后將空比色皿插入樣品道一側(cè)，此時(shí)吸光值應(yīng)小于0.07Abs創新延展；如果大于此值強化意識，有可能是比色皿不干凈或使用了玻璃比色皿；同樣方法也可判斷空白溶液的吸光值大谢厩闆r‖F場；
處置：清洗比色皿，更換空白溶液力量；
（5）故障：吸光值結(jié)果出現(xiàn)負(fù)值（常見(jiàn)）我有所應；
原因：沒(méi)做空白記憶、樣品的吸光值小于空白參比液使用；
檢查：將參比液與樣品液調(diào)換位置便知合規意識；
處置：做空白記憶密度增加、調(diào)換參比液或用參比液配置樣品溶液；
（6）故障：樣品信號(hào)重現(xiàn)性不良創新內容；
原因：排除儀器本身的原因外機遇與挑戰，大的可能是樣品溶液不均勻所致；在簡(jiǎn)易的單光束儀器中善於監督，樣品池架一般為推拉式的集成技術，有時(shí)重復(fù)推拉不在同一個(gè)位置上；
檢查：更換一種穩(wěn)定的試樣判定更合理；
處置：采取正確的試樣配置手段適應能力；修理推拉式樣品架的定位碰珠；
（7）故障：做基線掃描或樣品掃描時(shí)各方面，基線或信號(hào)有一個(gè)大的負(fù)脈沖防控；
原因：掃描速度設(shè)置得過(guò)快，信號(hào)在讀取時(shí)適應性，誤將濾光片或光源鏡的切換當(dāng)做信號(hào)讀取了堅實基礎；
檢查：改變掃描速度；
（8）故障：做基線掃描或樣品掃描時(shí)重要作用，基線或信號(hào)有一個(gè)長(zhǎng)時(shí)間段的負(fù)值或滿(mǎn)屏大噪聲等地；
原因：濾光片飼服電機(jī)“失步"，造成檔位錯(cuò)位尤為突出，國(guó)產(chǎn)電機(jī)尤甚規定；
檢查：重新開(kāi)機(jī)有可能回復(fù)，或打開(kāi)單色器對(duì)照波長(zhǎng)與濾光片的相對(duì)位置來(lái)檢查（注意：打開(kāi)單色器時(shí)要保護(hù)檢測(cè)器不被強(qiáng)光刺激）空間載體；
處置：更換飼服電機(jī)高質量；
（9）故障：樣品出峰位置不對(duì)；
原因：波長(zhǎng)傳動(dòng)機(jī)構(gòu)產(chǎn)生位移經驗分享；
檢查：通過(guò)氘燈的656.1nm的特征譜線來(lái)判斷波長(zhǎng)是否準(zhǔn)確解決方案；
處置：對(duì)于儀器而言處理手段相對(duì)簡(jiǎn)單，使用儀器固有的自動(dòng)校正功能即可有力扭轉；而對(duì)于相對(duì)簡(jiǎn)單的儀器上高質量，這種調(diào)整則需要專(zhuān)業(yè)人員來(lái)進(jìn)行了；
（10）故障：信號(hào)的分辨率不夠廣度和深度，具體表現(xiàn)是：本應(yīng)疊加在某一大峰上的小峰無(wú)法觀察到深入交流；
原因：狹縫設(shè)置過(guò)窄而掃描速度過(guò)快，造成檢測(cè)器響應(yīng)速度跟不上科技實力，從而失去應(yīng)測(cè)到的信號(hào)處理；按常理，一定的狹縫寬度要對(duì)應(yīng)一定范圍的掃描速度在此基礎上；或者狹縫設(shè)置得過(guò)寬助力各行，使儀器的分辨率下降前來體驗，將小峰融合在大峰里了。
檢查：放慢掃描速度看一看或?qū)ⅹM縫設(shè)窄確定性；
處置：將掃描速度更加廣闊、狹縫寬窄、時(shí)間常數(shù)三者擬合成一個(gè)優(yōu)化的條件講故事；
（11）故障：當(dāng)儀器波長(zhǎng)固定在某個(gè)波長(zhǎng)下時(shí)非常完善，吸光值信號(hào)上下擺動(dòng)，特別是測(cè)量模式轉(zhuǎn)換為按鍵開(kāi)關(guān)式的簡(jiǎn)易儀器全面革新；
原因：開(kāi)關(guān)觸點(diǎn)因長(zhǎng)期氧化所致造成接觸不良作用；
檢查：用手加重力量按琴鍵時(shí)，吸光值隨之變化行業分類；
處置：用金屬活化劑清洗按鍵觸點(diǎn)即可技術特點；
（12）故障：儀器零點(diǎn)飄忽不定，主要反映在簡(jiǎn)易儀器上數據顯示；
原因：在簡(jiǎn)易儀器中高質量，零點(diǎn)往往是通過(guò)電位器來(lái)調(diào)整也逐步提升，這種電位器一般是炭膜電阻制作的記得牢，使用久了往往造成接觸不良；
處置：更換電位器重要的作用；
還有一點(diǎn)補(bǔ)充一下,如果是PC連接UV時(shí),同志們一定注意接口板別不小心被擊穿,一定要關(guān)機(jī)后拔插.若可見(jiàn)部分穩(wěn)定性不好更多可能性，有可能是鎢燈的供電電壓不穩(wěn)，一般鎢燈電源是穩(wěn)壓電路足夠的實力。
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